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編輯：欣達電子 發(fā)表日期 : 2018-10-18 閱讀量：149
IPC-TM-650測試手冊是一套全面性PCB產(chǎn)業(yè)測試規格，從PCB的機械特性、化學(xué)特性、物理特性、電氣特性、環(huán)境特性等方面提供了詳盡測試方法及測試要求。該手冊的2.5節描述了PCB電氣特性，而其中的2.5.5.7a則全面介紹了PCB特征阻抗測試方法和相應的測試儀器要求，并包含了單端走線(xiàn)和差分走線(xiàn)的阻抗測試。
TDR基本原理
圖1是一個(gè)階躍訊號在傳輸線(xiàn)(如PCB走線(xiàn))上傳輸時(shí)的示意圖。而傳輸線(xiàn)是透過(guò)電介質(zhì)與GND分隔的，就像無(wú)數個(gè)微小的電容器并聯(lián)。當電訊號到達某個(gè)位置時(shí)，就會(huì )使該位置上的電壓產(chǎn)生變化，如同為電容器充電。由于傳輸線(xiàn)在此位置上具備對地電流迴路，因此會(huì )產(chǎn)生阻抗。但該阻抗只有階躍訊號自身才能感覺(jué)到，這就是所謂的特征阻抗。
當傳輸線(xiàn)上出現阻抗不連續的現象時(shí)，在阻抗變化之處的階躍訊號就會(huì )產(chǎn)生反射現象，若對反射訊號進(jìn)行取樣并顯示在示波器屏幕上，就會(huì )得到圖2所示的波形，該波形顯示了一條被測試的傳輸線(xiàn)在不同位置上的阻抗變化。
我們可以比較圖2中的兩個(gè)波形。這是使用兩臺解析度不同的TDR設備在測試同一條傳輸線(xiàn)時(shí)獲得的測試結果。兩款設備對傳輸線(xiàn)阻抗變化的反映不同，一個(gè)明顯而另一個(gè)不明顯。TDR設備感測傳輸線(xiàn)阻抗不連續的解析度主要取決于TDR設備發(fā)出之階躍訊號上升時(shí)間的快慢，快的上升時(shí)間可獲得高解析度。而TDR設備的上升時(shí)間往往和測試系統的頻寬相關(guān)，頻寬高的測試系統擁有更快的上升時(shí)間。從另一個(gè)角度考慮，TDR設備的系統頻寬限制了TDR測試的解析度。在IPC-TM-650測試手冊中，對TDR設備的上升時(shí)間是依照系統上升時(shí)間(tsys)來(lái)定義。
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